簡介

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（STM）之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器，可以對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測，或者直接進(jìn)行納米操縱。現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域中，成為納米科學(xué)研究的基本工具。

AFM探針與樣品（導(dǎo)體、半導(dǎo)體、非導(dǎo)體）之間的原子力大小，與兩者間距有關(guān)。當(dāng)探針與樣品進(jìn)入原子力狀態(tài)時(shí)，作用于針尖上的原子力推動(dòng)微懸臂使之產(chǎn)生偏轉(zhuǎn)。此時(shí)對(duì)樣品進(jìn)行XY掃描，微懸臂的偏轉(zhuǎn)量隨樣品表面的起伏而變化，采用光杠桿方法將偏轉(zhuǎn)量放大從而獲得偏轉(zhuǎn)量的大小，即可獲得樣品表面的微觀納米形貌。

YMP-6114 # 原子力顯微鏡特點(diǎn)

AFM探頭采用臥式設(shè)計(jì)，具有臥式可視化光路，使科研及教學(xué)實(shí)驗(yàn)過程中研究人員及學(xué)生對(duì)儀器的操作更直觀，探頭及儀器性能更加穩(wěn)定。

• 采用高精度壓電陶瓷掃描傳感器， X、Y、Z互相正交的三軸壓電陶瓷，可保證掃描圖像不因耦合而失真；掃描器具有更好的掃描線性和獨(dú)立性、更高的強(qiáng)度和剛度，兼具更強(qiáng)的掃描驅(qū)動(dòng)力，能同時(shí)適用于較小與較大、較輕與較重樣品的掃描成像。

• 具有強(qiáng)大的圖形軟件與功能，彩色圖像掃描、處理及顯示軟件，中英文操作界面，兼容Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系統(tǒng)。用鼠標(biāo)可任意選擇局部掃描區(qū)域，實(shí)現(xiàn)圖像的平移、定位和縮放。具有實(shí)現(xiàn)X 和 Y 方向的面掃描和線掃描的功能；可獲得樣品表面的納米級(jí)三維形貌結(jié)構(gòu)和截面線顯示功能。裁剪、粘貼、 對(duì)比調(diào)節(jié)、亮度調(diào)節(jié)、顏色調(diào)整、背景色調(diào)整、圖像平滑、濾波等圖像處理功能。   

• AFM的使用非常簡單和便捷，一般無需專人操作和維護(hù)。安裝探針、安裝樣品、粗調(diào)和微調(diào)進(jìn)樣、圖像掃描、圖像存儲(chǔ)等操作，均可簡單完成。特別適用于科學(xué)研究、教學(xué)實(shí)驗(yàn)及產(chǎn)品檢測。

• 無須嚴(yán)苛的使用環(huán)境，能夠在在普通實(shí)驗(yàn)室、普通實(shí)驗(yàn)臺(tái)、普通教室、普通桌子等條件下正常運(yùn)行，能夠在有光照、有輕微振動(dòng)及有人員走動(dòng)的一般環(huán)境條件下正常工作。我們的AFM是看得見、摸得著、易維護(hù)、易操作、普適化的，而不是黑箱式的、安裝調(diào)試極其繁瑣的、需要專人操作的、使用環(huán)境近乎嚴(yán)苛的。

YMP-6114 # 原子力顯微鏡應(yīng)用

同時(shí)適用于科學(xué)研究、本科生和研究生的教學(xué)實(shí)驗(yàn)及納米技術(shù)產(chǎn)品的檢測，廣泛適用于各種金屬/非金屬、導(dǎo)體/非導(dǎo)體、磁性/非磁性材料樣品的掃描檢測。

典型測試數(shù)據(jù)

納米壓印結(jié)構(gòu)樣品的AFM圖像

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